影響Y50電連接器的因素比較復雜，目前的研究也逐漸多元化。其中，早在20世紀90年代就提出了航天電連接器的常見失效模式和機理分析。詳細介紹了電連接器的基礎(chǔ)知識和相關(guān)測試標準。本文不僅分析了綜合環(huán)境應(yīng)力和插拔對電連接器接觸性能和貯存壽命的影響，還建立了電連接器的電接觸模型和接觸壽命模型，提出了電連接器的加速模擬試驗方案和壽命評估。開發(fā)了電連接器綜合特性參數(shù)測試分析系統(tǒng)，建立了插拔力與接觸電阻之間的模型。從試驗、影響因素、建模與仿真等方面分析了電連接器的微動磨損失效機理。分析了電連接器在熱帶海洋環(huán)境中的環(huán)境適應(yīng)性、不同外殼的耐腐蝕性以及對電性能的影響。

研究的重點是環(huán)境應(yīng)力，尤其是綜合環(huán)境應(yīng)力引起的電連接器失效。在各種環(huán)境應(yīng)力中，溫度和振動引起的電子產(chǎn)品故障分別占40%和28%左右，濕度引起的故障占18%。由溫度、濕度和振動引起的故障占所有故障因素，高達86%。與國外的研究結(jié)果一致，國內(nèi)對電連接器的研究也表明溫度和振動對電連接器的影響很大，對溫度和振動的研究廣泛而深入。環(huán)境應(yīng)力對電連接器外殼的腐蝕和破壞也會影響其內(nèi)部結(jié)構(gòu)如接觸體和絕緣材料，使電連接器的電氣性能、接觸電阻和絕緣耐壓下降。在復雜環(huán)境應(yīng)力的作用下，環(huán)境適應(yīng)性會降低，導致電連接器失效。